由于集成器件中噪声难以滤除且存储效率受限，现有装置仅能实现在原子激发态的存储，存储时间仅达10微秒级，存储效率远低于光纤延迟线的传输效率。
研究团队表示，SMART-EM正在改变化学研究的方式。
今年一季度，公司销售额增长30%以上。
频繁充放电会加速电池老化。
由于集成器件中噪声难以滤除且存储效率受限，现有装置仅能实现在原子激发态的存储，存储时间仅达10微秒级，存储效率远低于光纤延迟线的传输效率。
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今年一季度，公司销售额增长30%以上。
频繁充放电会加速电池老化。